環境試驗標準
來源：久濱儀器 瀏覽次數：次 日期：2019-2-13
電工電子產品環境試驗設備國家標準匯編
1.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總
2.GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之溫度試驗設備
3.GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之濕熱試驗設備
4.GB/T 5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之鹽霧試驗設備
5.GB/T 5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之太陽輻射試驗設備
6.GB/T 5170.10-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之高低溫低氣壓試驗設備
7.GB/T 5170.11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法之腐蝕氣體試驗設備
8.GB/T 5170.13-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之振動（正弦）試驗用機械振動臺
9.GB/T 5170.14-2009 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之振動（正弦）試驗用電動振動臺
10.GB/T 5170.15-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之振動（正弦）試驗用液壓振動臺
11.GB/T 5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之穩態加速度試驗用離心機
12.GB/T 5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備
13.GB/T 5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之溫度/濕度組合循環試驗設備
14.GB/T 5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之溫度/振動（正弦）綜合試驗設備
15.GB/T 5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之水試驗設備
16.GB/T 5170.21-2008 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法之振動（隨機）試驗用液壓振動臺
17.GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
18.GB/T 10587-2006 鹽霧試驗箱技術條件
19.GB/T 10588-2006 長霉試驗箱技術條件
20.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
21.GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術條件
22.GB/T 10591-2006 高溫/低氣壓試驗箱技術條件
23.GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
24.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
25.GB/T 11159-2010 低氣壓試驗箱技術條件
26.GB/T 6999-2010 環境試驗用相對濕度查算表
